В сканирующем туннельном микроскопе изображение поверхности исследуемого образца получают за счет:

  • Измерения сопротивления, возникающего в промежутке между острием зонда и сканируемой поверхностью
  • Регистрации величины отклонения зонда при изменении силы взаимодействия между зондом и поверхностью
  • Регистрации величины тока, возникающего между острием зонда и сканируемой поверхностью
  • Регистрации потока вторичных электронов, выбиваемых зондом со сканируемой поверхности
Для просмотра статистики ответов нужно войти.