В атомно - силовом микроскопе изображение поверхности исследуемого образца получают за счет:

  • Измерения разности потенциалов, возникающей в промежутке между острием зонда и сканируемой поверхностью
  • Регистрации величины изменения силы взаимодействия между зондом и поверхностью
  • Регистрации величины тока, возникающего между острием зонда и сканируемой поверхностью
  • Регистрации потока вторичных электронов, выбиваемых зондом со сканируемой поверхности
Для просмотра статистики ответов нужно войти.