Если для исследователя поставлена задача определения границы раздела полупроводников разных типов, какой методикой СЗМ следует воспользоваться?
- силовой литографией
- микроскопией латеральных сил
- атомно-силовой спектроскопией
- сканирующей тунельной микроскопией
К сожалению, у нас пока нет статистики ответов на данный вопрос,
но мы работаем над этим.