При проведении исследований на растровом электронном микроскопе диэлектрических образцов с регулировкой какого параметра можно уменьшить эффект «засветки»?
- Увеличение
- Размер пятна
- Рабочее расстояние
- Ускоряющее напряжение
К сожалению, у нас пока нет статистики ответов на данный вопрос,
но мы работаем над этим.